電子デバイスの進化に貢献する「広帯域雑音プローブシステム」

Device Lab's <Noise Probe System> contributes to the evolution of electronic devices

　株式会社デバイスラボは、筑波大学で開発された独自の雑音計測をコア技術とした半導体の研究開発に必要不可欠な製品「雑音プローブ」を製造販売しています。半導体の電気的特性(雑音特性)を正確にモデリングし、回路設計に反映することで、集積回路において動作マージンを適正に確保し、高性能化を実現します。

　従来計測が困難だった中間帯域での簡便な雑音計測を可能とします。
　「雑音プローブ」を用いることでこれまで計測できなかった帯域を含めたより精緻な半導体の電気的特性モデリングにより、回路設計のオーバーデザイン(余裕を多くとること)を減らし、半導体のさらなる小型化・高性能化に寄与することができます。
　さらに、電気的な雑音特性は、トランジスタのみならず、脳型コンピューティングの基本素子や量子コンピューティングの研究開発においても、欠かすことのできない計測項目です。
　現在、NEDO支援により大規模量子コンピューティングに向けた基礎技術として、極低温での広帯域雑音計測技術を開発中です。

【参考資料】
NEDOの委託事業「大規模量子ビット制御に向けた極低温環境下での広帯域雑音計測技術開発」：量子コンピューティング向け、極低温（4K）で動作するアンプの開発
https://www.nedo.go.jp/koubo/CA3_100318.html
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【技術論文】
"Direct white noise characterization of short-channel MOSFETs"
https://ieeexplore.ieee.org/document/9366960
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"Variable-Temperature Noise Characterization of N-MOSFETs
Using an In-Situ Broadband Amplifier"
https://ieeexplore.ieee.org/document/9536563
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代表取締役
大毛利 健治

筑波大学で開発した最先端かつ信頼性の高い技術で、電子デバイスの進化に貢献します。